Основы анализа поверхности и тонких пленок: Пер. с англ., Л. Фелдман, Д. Майер

Основы анализа поверхности и тонких пленок: Пер. с англ., Л. Фелдман, Д. Майер - рейтинг книги по отзывам читателей, краткое содержание

Автор:

Л. Фелдман, Д. Майер

Категория:

Физика

Жанр:

Наука и общество

О книге

  • 1989 Год первого издания книги

Краткое содержание

Монография, написанная известными американскими специалистами в Мягкая обложкаасти атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в Мягкая обложкаасти микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне. Для специалистов, интересующихся прМягкая обложкаемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.

Купить книгу в книжных интернет-магазинах



Другие научные книги


Забавное видео

В 2 года родители подарили малышу баскетбольное кольцо и мяч, посмотрите, что умеет этот малыш сейчас!